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產(chǎn)品綜述6332A/B光回波損耗測試儀內(nèi)置2×2光開關(guān)，可快速實(shí)現(xiàn)光器件插入損耗和回波損耗雙向測試。光回波損耗測試時(shí)，不需要在光纖末端進(jìn)行纏繞操作或使用匹配液，顯著提高光回波損耗測試效率。通過內(nèi)置激光器功率檢測模塊，實(shí)現(xiàn)光插入損耗準(zhǔn)確測試。產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于光纖通信科研、教學(xué)和生產(chǎn)領(lǐng)域。
更新時(shí)間：2025-05-10
產(chǎn)品綜述
6332A/B光回波損耗測試儀內(nèi)置2×2光開關(guān)，可快速實(shí)現(xiàn)光器件插入損耗和回波損耗雙向測試。光回波損耗測試時(shí)，不需要在光纖末端進(jìn)行纏繞操作或使用匹配液，顯著提高光回波損耗測試效率。通過內(nèi)置激光器功率檢測模塊，實(shí)現(xiàn)光插入損耗準(zhǔn)確測試。產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于光纖通信科研、教學(xué)和生產(chǎn)領(lǐng)域。
功能特點(diǎn)
主要特點(diǎn)
回?fù)p測量無需纏繞或使用匹配液
適應(yīng)不同產(chǎn)品的端面回?fù)p測試，待測光纖跳線短至70cm
全自動雙波長光插回?fù)p同時(shí)測試
單向和雙向測試，縮短測試時(shí)間
設(shè)定不同插回?fù)p閾值
同時(shí)顯示插回?fù)p測試結(jié)果
保存參考和待測的測試結(jié)果，測試裝置不變的話，可以直接調(diào)用保存的參考數(shù)據(jù)
回?fù)p測量無需纏繞或使用匹配液
儀器采用光時(shí)域反射技術(shù)，區(qū)別于傳統(tǒng)的光連續(xù)波反射技術(shù)，相應(yīng)地避免了光回波損耗測量過程中的纏繞或者使用匹配液，提高了測試效率。
適應(yīng)不同產(chǎn)品的端面回?fù)p測試，待測光纖跳線短至70cm
不同型號儀器測試的回波損耗分別能低至14dB和高達(dá)80dB，這樣，可以根據(jù)產(chǎn)品回波損耗值來選擇不同型號的儀器。儀器設(shè)計(jì)了窄脈寬的激光器脈沖光驅(qū)動電路，當(dāng)待測光回波損耗超過40dB時(shí)，待測光纖跳線可短至70cm。
全自動雙波長光插回?fù)p同時(shí)測試
測試過程中，選中雙波長之后，參考測試可顯示雙波長的輸出光功率，待測件測試可顯示雙波長的光插入損耗和光回波損耗測試結(jié)果。
單向和雙向測試，縮短測試時(shí)間
儀器通過內(nèi)置2×2光開關(guān)，可以從不同輸出端口輸出脈沖光，從而實(shí)現(xiàn)單雙向測試功能。雙向測試時(shí)，一次連接光纖跳線的兩個端面，一次測試即可測出跳線的光插入損耗和這兩個端面的光回波損耗，從而使測試時(shí)間減半。
設(shè)定不同插回?fù)p閾值
進(jìn)入儀器設(shè)置測試條件界面，在插入損耗閾值和回波損耗閾值后面的窗口中輸入相應(yīng)的數(shù)值，那么在測試結(jié)果中插入損耗高于閾值和回波損耗低于閾值會顯示為紅色，其他為藍(lán)色。
典型應(yīng)用
如下圖所示，使用6332A/B光回波損耗測試儀同時(shí)測試FC/APC—FC/APC型跳線的光插入損耗和光回波損耗。
對6332A/B光回波損耗測試儀進(jìn)行參考測試之后，接入待測跳線，點(diǎn)擊測試鍵，即可測出待測光纖跳線的光插入損耗和光回波損耗。
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